「Portable SDK for UPnP」にバッファオーバーフローの脆弱性(JVN) | ScanNetSecurity
2026.01.03(土)

「Portable SDK for UPnP」にバッファオーバーフローの脆弱性(JVN)

IPAおよびJPCERT/CCは、「Portable SDK for UPnP」にバッファオーバーフローの脆弱性が存在すると「JVN」で発表した。ソニーや古河電気工業など複数の製品が影響を受ける。

脆弱性と脅威 セキュリティホール・脆弱性
独立行政法人 情報処理推進機構(IPA)および一般社団法人 JPCERT コーディネーションセンター(JPCERT/CC)は1月30日、「Portable SDK for UPnP」のunique_service_name() 関数にバッファオーバーフローの脆弱性が存在すると「Japan Vulnerability Notes(JVN)」で発表した。ソニーや古河電気工業など複数の製品が影響を受ける。

「UPnP SDK 1.2(Intel SDK)」および「UPnP SDK 1.6.17 より前のバージョン(Portable SDK)」のunique_service_name() 関数には、SSDPリクエストの処理に起因するバッファオーバーフローの脆弱性(CVE-2012-5963、CVE-2012-5964、CVE-2012-5965、CVE-2012-5958、CVE-2012-5959、CVE-2012-5960、CVE-2012-5961、CVE-2012-5962)が存在する。この脆弱性が悪用されると、細工されたSSDPリクエストを処理することで任意のコードが実行されるなど複数の影響を受ける可能性がある。JVNでは開発者向けの対策として、使用しているSDKのバージョンを確認して開発環境をアップデートし、影響を受ける各製品のアップデートを行うこと、ユーザに対しては開発者が提供する情報をもとにアップデートするよう呼びかけている。

《吉澤 亨史( Kouji Yoshizawa )》

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