「UEFI EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性（JVN） | ScanNetSecurity
2024.05.15(水)

「UEFI EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性（JVN）

IPAおよびJPCERT/CCは、UEFIのリファレンス実装である「EDK1」にバッファローの脆弱性が存在すると「JVN」で発表した。

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独立行政法人 情報処理推進機構（IPA）および一般社団法人 JPCERT コーディネーションセンター（JPCERT/CC）は1月6日、UEFI（Unified Extensible Firmware Interface）のリファレンス実装である「EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性（CVE-2014-8271）が存在すると「Japan Vulnerability Notes（JVN）」で発表した。CVSSによるBase Scoreは6.2。

EDK1の「Edk1/source/Sample/Universal/Variable/RuntimeDxe/FS/FSVariable.c」のソースコードを取り込んでいるUEFI実装には、POST メソッドの処理に起因するバッファオーバーフローの脆弱性が存在する。JVNでは、開発者が提供する情報や「CERT/CC Vulnerability Note VU#533140」のVendor Informationに掲載されている情報を参考に、対策方法を検討するよう呼びかけている。

《吉澤 亨史》

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