「UEFI EDK1」にバッファオーバーフローの脆弱性（JVN）
IPAおよびJPCERT/CCは、UEFIのリファレンス実装である「EDK1」にバッファローの脆弱性が存在すると「JVN」で発表した。
脆弱性と脅威
セキュリティホール・脆弱性
EDK1の「Edk1/source/Sample/Universal/Variable/RuntimeDxe/FS/FSVariable.c」のソースコードを取り込んでいるUEFI実装には、POST メソッドの処理に起因するバッファオーバーフローの脆弱性が存在する。JVNでは、開発者が提供する情報や「CERT/CC Vulnerability Note VU#533140」のVendor Informationに掲載されている情報を参考に、対策方法を検討するよう呼びかけている。
《吉澤 亨史》
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